HEIDENHAIN iTNC 530 (340 420) ISO programming - Instrukcja (Strona 465)

HEIDENHAIN iTNC 530 441
13.
1 O
g
ó
ln
e p
ar
am
e
tr
y u
¿
yt
k
o
w
n
ika
Posuw próbkowania dla drugiego pomiaru
przy pomocy TT 120, Stylus forma,
korekcje w TOOL.T MP6507
Posuw próbkowania dla drugiego pomiaru z TT 130 obliczyć,
ze stał tolerancj : +0
Posuw próbkowania dla drugiego pomiaru z TT 130 obliczyć,
ze zmienn tolerancj : +1
Stały posuw próbkowania dla drugiego pomiaru z T T 130: +2
Maksy malnie dopuszczalny bł d pomiaru z
TT 130 przy pomiarze z obracaj cym si
narz dziem
Konieczne dla obliczenia posuwu digitalizacji w
poł czeniu z MP6570
MP6510.0
0,001 do 0,999 [mm] (zaleca si : 0,005 mm)
MP6510.1
0,001 do 0,999 [mm] (zaleca si : 0,01 mm)
Posuw próbkowania dla TT 130 przy
stoj cym narz dziu MP6520
1 do 3 000 [mm/mi n]
Pomiar promienia przy pomocy TT 130:
Odst p kraw dzi dolnej narz dzia do
kraw dzi górnej palca sondy (Stylus) MP6530.0 (obszar przemieszczenia 1) do MP6530.2 (obszar
przemieszczenia 3)
0,001 do 99,9999 [mm]
Odst p bezpieczeństwa w osi wrzeciona
nad palcem TT 130 przy pozycjonowaniu
wst pnym MP6540.0
0,001 do 30 000,000 [mm]
Strefa bezpieczeństwa na płaszczyźnie
obróbki wokół Stylusa TT 130 przy
pozycjonowaniu wst pnym MP6540.1
0,001 do 30 000,000 [mm]
B ieg szybki w c yklu próbkowania dla TT 130 MP6550
10 do 10 000 [mm/min]
M funkcja dla orientacji wrzeciona przy
pomiarze pojedyńczych os trzy MP6560
0 do 999
Pomiar przy obracaj cym si narz dziu:
Dop uszczalna pr dkość obiegowa przy
obwodzie freza
Konieczna dla obl iczenia pr dkości obrotowej i
posu wu digitalizacji
MP6570
1,000 do 120,000 [m/min]
Pomiar przy obracaj cym si narz dziu:
Maksy malnie dopuszczalna pr dkość
obrotowa MP6572
0,000 do 1 000,000 [obr/min]
Przy wprowadzeniu 0 pr dkość obrotowa zostaje ograniczona do
1000 obr/min
3D układy impulsowe (sondy) i
digitalizacja