HEIDENHAIN SW 54843x-03 DIN Programming - Instrukcja (Strona 459)

HEIDENHAIN MANUALplus 620, CNC PILOT 640 459
5.2 Cykle układu pomiarowego
dla pomiaru jednopunktowego
Punkt zerowy C-oś jednopkt G772
Cykl G772 mierzy z osią C w podanym kierunku. Jeśli zdefiniowana w
cyklu wartość tolerancji zostanie przekroczona, to cykl zachowuje
ustalone odchylenie jako przesunięcie punktu zerowego. Wynik
pomiaru zostaje zachowany dodatkowo w zmiennej #i99.patrz “Cykle
układu pomiarowego dla trybu automatycznego” na stroni 453
Przebieg cyklu
Od aktualnej pozycji próbkowany element zostaje przemieszczany
poprzez obrót osi C w kierunku układu pomiarowego. Jeśli trzpień
dotknie obrabianego przedmiotu, to wartość pomiaru zostaje
zachowana i przedmiot jest pozycjonowany z powrotem.
Sterowanie wydaje komunikat o błędach, jeśli układ pomiarowy nie
osiągnie w obrębie podanego dystansu pomiarowego żadnego punktu
próbkowania. Jeżeli maksymalne odchylenie WE zostało
zaprogramowane, to punkt pomiarowy zostaje najechany dwa razy a
wartość średnica jest zachowana jako wynik. Jeśli różnica pomiarów
jest większa od maksymalnego odchylenia WE, to przebieg programu
zostaje przerwany i wydawany jest komunikat o błędach.
Przykład: G772 pomiar jednopunktowy punktu
zerowego oś C
. . .
OBROBKA
N3 G772 R1 C20 AC0 BD0.2 Q0 P0 H0
. . .
Parametry
R Rodzaj przesunięcia punktu zerowego:
 1: tabela i G152: aktywować przesunięcie punktu zerowego i
zachować dodatkowo w tabeli punktów zerowych.
Przesunięcie punktu zerowego pozostaje także po przebiegu
programu aktywnym.
 2: z G59 przesunięcie punktu zerowego aktywować dla
dalszego przebiegu programu. Po przebiegu programu
przesunięcie punktu zerowego nie jest więcej aktywne.
C Zakres pomiaru przyrostowo w kierunku: zakres pomiaru osi C
(w stopniach) wychodząc z aktualnej pozycji. Znak liczby określa
kierunek próbkowania.
AC Pozycja docelowa wartość zadana: absolutna współrzędna
punktu próbkowania w stopniach
BD Tolerancja +/-: zakres (w stopniach) dla wyniku pomiaru, w
którym nie przeprowadzono korekcji
KC Offset korekcji: dodatkowa wartość korekcji dodawana do
wyniku punktu zerowego
WE Maksymalne odchylenie: operację próbkowania wykonać dwa
razy i moniotorować rozpraszanie wartości pomiarowych
F Posuw pomiarowy: posuw dla operacji próbkowania. Nie
następuje zapis to wykorzystuje się posuw pomiarowy z tabeli
układów pomiarowych Jeśli zapisany posuw pomiarowy F jest
większy niż w tabeli układu pomiarowego, to zostaje on
zredukowany do posuwu z tabeli układów pomiarowych.