Pomiar jednopunktowy punkt zerowy g771 – HEIDENHAIN SW 54843x-02 DIN Programming Instrukcja Obsługi
Strona 443
HEIDENHAIN MANUALplus 620, CNC PILOT 640
443
5.2 Cykle uk
ładu pomiarowego dla pomiaru jednopunktowego
Pomiar jednopunktowy punkt zerowy G771
Cykl G771 mierzy z zaprogramowaną osią pomiaru w podanym
kierunku. Jeśli zdefiniowana w cyklu wartość tolerancji zostanie
przekroczona, to cykl zachowuje ustalone odchylenie jako
przesunięcie punktu zerowego. Wynik pomiaru zostaje zachowany
dodatkowo w zmiennej #i99 (Patrz „Cykle układu pomiarowego dla
trybu automatycznego” na stronie 439.).
Przebieg cyklu
Od aktualnej pozycji układ pomiarowy przemieszcza się ze
zdefiniowaną osią pomiaru w kierunku punktu pomiaru. Jeśli trzpień
dotknie obrabianego przedmiotu, to wartość pomiaru zostaje
zachowana i układ jest pozycjonowany z powrotem do punktu startu.
Sterowanie wydaje komunikat o błędach, jeśli układ pomiarowy nie
osiągnie w obrębie podanego dystansu pomiarowego żadnego punktu
próbkowania. Jeżeli maksymalne odchylenie WE zostało
zaprogramowane, to punkt pomiarowy zostaje najechany dwa razy a
wartość średnica jest zachowana jako wynik. Jeśli różnica pomiarów
jest większa od maksymalnego odchylenia WE, to przebieg programu
zostaje przerwany i wydawany jest komunikat o błędach.
Przykład: G771 pomiar jednopunkt. korekcja narz.
. . .
OBROBKA
N3 G771 R1 D0 K20 AC0 BD0.2 Q0 P0 H0
. . .
Parametry
R
Rodzaj przesunięcia punktu zerowego:
1: tabela i G59: aktywować przesunięcie punktu zerowego i
zachować dodatkowo w tabeli punktów zerowych.
Przesunięcie punktu zerowego pozostaje także po przebiegu
programu aktywnym.
2: z G59 przesunięcie punktu zerowego aktywować dla
dalszego przebiegu programu. Po przebiegu programu
przesunięcie punktu zerowego nie jest więcej aktywne.
D
Oś pomiaru: oś, na której ma być przeprowadzony pomiar
K
Odcinek pomiaru przyrostowo w kierunku (znak liczby):
maksymalna droga pomiaru dla operacji próbkowania. Znak
liczby określa kierunek próbkowania.
AC Pozycja docelowa wartość zadana: współrzędna punktu
próbkowania