HEIDENHAIN iTNC 530 (340 49x-01) ISO programming - Instrukcja (Strona 529)

HEIDENHAIN iTNC 530 529
13.1 Ogólne parametryużytkownika
Posuw próbkowania dla drugiego pomiaru
przy pomocy TT 120, Stylus forma,
korekcje w TOOL.T MP6507
Posuw próbkowania dla drugiego pomiaru z TT 130 obliczyć,
ze stał tolerancj : +0
Posuw próbkowania dla drugiego pomiaru z TT 130 obliczyć,
ze zmienn tolerancj : +1
Stały posuw próbkowania dla drugiego pomiaru z TT 130: +2
Maksymalnie dopuszczalny bł d pomiaru
z TT 130 przy pomiarze z obracaj cym si
narz dziem
Konieczne dla obliczenia posuwu digitalizacji
w poł czeniu z MP6570
MP6510.0
0,001 do 0,999 [mm] (zaleca si : 0,005 mm)
MP6510.1
0,001 do 0,999 [mm] (zaleca si : 0,01 mm)
Posuw próbkowania dla TT 130 przy
stoj cym narz dziu MP6520
1 do 3 000 [mm/min]
Pomiar promienia przy pomocy TT 130:
Odst p kraw dzi dolnej narz dzia do
kraw dzi górnej palca sondy (Stylus) MP6530.0 (obszar przemieszczenia 1) do MP6530.2 (obszar
przemieszczenia 3)
0,001 do 99,9999 [mm]
Odst p bezpieczeństwa w osi wrzeciona
nad palcem TT 130 przy pozycjonowaniu
wst pnym MP6540.0
0,001 do 30 000,000 [mm]
Strefa bezpieczeństwa na płaszczyźnie
obróbki wokół Stylusa TT 130 przy
pozycjonowaniu wst pnym MP6540.1
0,001 do 30 000,000 [mm]
Bieg szybki w cyklu próbkowania dla TT
130 MP6550
10 do 10 000 [mm/min]
M funkcja dla orientacji wrzeciona przy
pomiarze pojedyńczych ostrzy MP6560
0 do 999
Pomiar przy obracaj cym si narz dziu:
Dopuszczalna pr dkość obiegowa przy
obwodzie freza
Konieczna dla obliczenia pr dkości obrotowej
i posuwu digitalizacji
MP6570
1,000 do 120,000 [m/min]
Pomiar przy obracaj cym si narz dziu:
Maksymalnie dopuszczalna pr dkość
obrotowa MP6572
0,000 do 1 000,000 [obr/min]
Przy wprowadzeniu 0 pr dkość obrotowa zostaje ograniczona do 1000
obr/min
3D sondy pomiarowe impulsowe