HEIDENHAIN TNC 426 (280 474) Touch Probe Cycles - Instrukcja (Strona 88)

3 Cykle sondy impulsowej dla automatycznej
kontroli obrabianych przedmiotów
86
MIERZYĆ WSPÓŁRZ DNA (cykl sondy 427,
DIN/ISO: G427)
Cykl sondy pomiarowej 427 ustala współrz dn na wybieralnej osi
i odkłada t wartość do parametru systemowego. Jeśli
zdefiniujemy odpowiednie wartości tolerancji w cyklu, to TNC
przeprowadza porównanie wartości zadanych i rzeczywistych i
odkłada to odchylenie do parametrów systemowych.
1 TNC pozycjonuje sond z posuwem szybkim (wartość z MP6150
lub MP6361) i przy pomocy logiki pozycjonowania (rozdział 1.2)
do zaprogramowanego punktu próbkowania . TNC przesuwa
przy tym sond o bezpiezpieczny odst p przeciwnie do
ustalonego kierunku przemieszczenia
2 Potem TNC pozycjonuje sond na płaszczyźnie obróbki na
wprowadzony punkt próbkowania mierzy tam wartość
rzeczywist wybranej osi
3 Na koniec TNC pozyjonuje sond z powrotem na Bezpieczn
wysokość i zapami tuje ustalon współrz dn w nast puj cym
Q parametrze:
Numer parametru Znaczenie
Q160 Zmierzona współrz dna
Prosz uwzgl dnić przed programowaniem
Przed definicj cyklu musi być zaprogramowane
wywołanie narz dzia dla definicji osi sondy.
>
1 szy punkt pomiarowy 1 szej osi Q263
(bezwzgl dny): współrz dna pierwszego punktu
próbkowania w osi głównej płaszczyzny obróbki
>
1 szy punkt pomiarowy 2 giej osi Q264
(bezwzgl dny): współrz dna pierwszego punktu
pomiarowego w osi pomocniczej płaszczyzny obróbki
>
Wysokość pomiaru w osi sondy Q261 (bezwzgl dna):
współrz dna centrum główki sondy (=punkt
dotkni cia) w osi sondy, na której ma być dokonany
pomiar
>
Bezpieczny odst p Q320 (przyrostowo): dodatkowy
odst p mi dzy punktem pomiaru i główk sondy
pomiarowej. Q320 działa addytywnie w stosunku do
MP6140
>
Oś pomiarowa (1...3: 1=oś główna) Q272: oś, na
której ma być dokonany pomiar:
1: Oś główna płaszczyzny obróbki
2: Oś pomocnicza płaszczyzny obróbki
3: Oś sondy pomiarowej
3.3 Automatyczny pomiar obrabianych przedmiotów
X
Y
Q264
Q263
+
–
– +
Q267
Q272=2
Q272=1
MP6140 + Q320