3 automatyczny pomiar obrabianych przedmiotów – HEIDENHAIN TNC 426 (280 474) Touch Probe Cycles Instrukcja Obsługi

Strona 86

Advertising
background image

3 Cykle sondy impulsowej dla automatycznej

kontroli obrabianych przedmiotów

84

MIERZYĆ ŚRODNIK NA ZEWN. (cykl sondy 426,
DIN/ISO: G426)

Cykl sondy pomiarowej 426 ustala położenie i szerokość środnika.
Jeśli zdefiniujemy odpowiednie wartości tolerancji, to TNC
przeprowadza porównanie wartości zadanych i rzeczywistych i
odkłada odchylenie do parametrów systemowych.

1 TNC pozycjonuje sond z posuwem szybkim (wartość z MP6150

lub MP6361) i przy pomocy logiki pozycjonowania (rozdział 1.2)
do zaprogramowanego punktu próbkowania . TNC przesuwa
sond pomiarow o bezpieczny odst p przeciwnie do
określoneg kierunku przemieszczenia

2 Nast pnie sonda przemieszcza si na wprowadzon wysokość

pomiaru i przeprowadza pierwsz operacj próbkowania z
posuwem próbkowania (MP6120 lub MP6360). 1 sze
próbkowanie zawsze w kierunku ujemnym zaprogramowanej osi

3 Potem sonda przemieszcza si na bezpiecznej wysokości do

nast pnego punktu próbkowania i przeprowadza tam drug
operacj próbkowania

4 Na koniec TNC pozycjonuje sond z powrotem na Bezpieczn

wysokość i zapami tuje wartości rzeczywist i odchylenie w
nast puj cych Q parametrach.

Numer parametru Znaczenie

Q156

Wartość rzeczywista zmierzona długość

Q157

Wartość rzeczywista położenie osi środkowej

Q166

Odchylenie zmierzonego położenia

Prosz uwzgl dnić przed programowaniem

Przed definicj cyklu musi być zaprogramowane
wywołanie narz dzia dla definicji osi sondy pomiarowej.

>

1 szy punkt pomiarowy 1 szej osi Q263
(bezwzgl dny): współrz dna pierwszego punktu
próbkowania w osi głównej płaszczyzny obróbki

>

1 szy punkt pomiarowy 2 giej osi Q264
(bezwzgl dny): współrz dna pierwszego punktu
próbkowania w osi pomocniczej płaszczyzny obróbki

>

2 gi punkt pomiarowy 1 szej osi Q265 (bezwzgl dny):
współrz dna drugiego punktu pomiarowego w osi
głównej płaszczyzny obróbki

>

2 gi punkt pomiarowy 2 giej osi Q266 (bezwzgl dny):
współrz dna drugiego punktu próbkowania w osi
pomocniczej płaszczyzny obróbki

3.3 Automatyczny pomiar obrabianych przedmiotów

Advertising