HEIDENHAIN iTNC 530 (340 49x-04) Touch Probe Cycles - Instrukcja (Strona 136)

136 3 Cykle sondy pomiarowej dla automatycznej kontroli obrabianego przedmiotu
3.3 Automatyczny pomiar przedmiotów
 1. punkt pomiaru 1. osi Q263 (absolutnie):
współrzędna pierwszego punktu próbkowania na osi
głównej płaszczyzny obróbki
 1. punkt pomiaru 2. osi Q264 (absolutnie):
współrzędna pierwszego punktu próbkowania na osi
pomocniczej płaszczyzny obróbki
 Wysokość pomiaru w osi sondy Q261 (absolutna):
współrzędna środka kulki (=punkt dotknięcia) w osi
sondy pomiarowej, na której ma nastąpić pomiar
 Bezpieczna wysokość Q320 (przyrostowo): dodatkowy
odstęp pomiędzy punktem pomiaru i kulką sondy
pomiarowej. Q320 działa addytywnie do MP6140
 Oś pomiaru (1..3: 1=oś główna) Q272: oś, na której ma
być dokonywany pomiar:
1: oś główna = oś pomiaru
2: oś pomocnicza = oś pomiaru
3: oś sondy = oś pomiaru
 Kierunek przemieszczenia 1 Q267: kierunek, w którym
sonda ma zbliżyć się do obrabianego przedmiotu:
-1: kierunek przemieszczenia ujemny
+1:kierunek przemieszczenia dodatni
 Bezpieczna wysokość Q260 (absolutna): współrzędna
na osi sondy pomiarowej, na której nie może dojść do
kolizji pomiędzy sondą i obrabianym przedmiotem
(mocowadłem)
X
Y
Q264
Q263
+
–
– +
Q267
Q272=2
Q272=1
MP6140 + Q320
X
Z
Q260
Q261
+
–
Q272=1
Q272=3 Q267