HEIDENHAIN iTNC 530 (340 422) Touch Probe Cycles - Instrukcja (Strona 83)

HEIDENHAIN iTNC 530 83
3.2 Automatyczne ustalanie punktów odniesienia
 Srodek 1 szej osi Q268 (absolutnie): Punkt
środkowy pierwszego odwiertu w osi głównej
płaszczyzny obróbki
 Srodek 1 szej osi Q269 (absolutnie): Punkt
środkowy pierwszego odwiertu w osi pomocniczej
płaszczyzny obróbki
 Srodek 1 szej osi Q270 (absolutnie): Punkt
środkowy drugiego odwiertu w osi głównej
płaszczyzny obróbki
 Srodek 2 szej osi Q271 (absolutnie): Punkt
środkowy drugiego odwiertu w osi pomocniczej
płaszczyzny obróbki
 Srodek 3 szej osi Q316 (absolutnie): Punkt
środkowy trzeciego odwiertu w osi głównej
płaszczyzny obróbki
 Srodek 3 szej osi Q317 (absolutnie): Punkt
środkowy trzeciego odwiertu w osi pomocniczej
płaszczyzny obróbki
 Srodek 4 szej osi Q318 (absolutnie): Punkt
środkowy czwartego odwiertu w osi głównej
płaszczyzny obróbki
 Srodek 4 szej osi Q319 (absolutnie): Punkt
środkowy czwartego odwiertu w osi pomocniczej
płaszczyzny obróbki
 Wysokość pomiaru na osi sondy pomiarowej
Q261 (absolutna): Współrz dna środka kuli (=punkt
dotkni cia) na osi sondy pomiarowej, na której ma
nast pić pomiar
 Bezpieczna wysokość Q260 (absolutnie):
Współrz dna na osi sondy pomiarowej, na której nie
może dojść do kolizji pomi dzy sond i obrabianym
przedmiotem (mocowadłem)
X
Y
Q269
Q268 Q270
Q317
Q271
Q318 Q316
Q319
X
Z
Q261
Q260