HEIDENHAIN iTNC 530 (340 422) Touch Probe Cycles - Instrukcja (Strona 49)

HEIDENHAIN iTNC 530 49
3.1 Automatyczne r
e
jestr
o
wanie ukośnego położenia przedmiotu
 1. Punkt pomiaru 1 ej osi Q263 (absolutnie):
Współrz dna pierwszego punktu próbkowania w osi
głównej płaszczyzny obróbki
 1. Punkt pomiaru 2 ej osi Q264 (absolutnie):
Współrz dna pierwszego punktu próbkowania w osi
pomocniczej płaszczyzny obróbki
 2. Punkt pomiaru 1 ej osi Q265 (absolutnie):
Współrz dna drugiego punktu próbkowania w osi
głównej płaszczyzny obróbki
 2. Punkt pomiaru 2 ej osi Q266 (absolutnie):
Współrz dna drugiego punktu próbkowania w osi
pomocniczej płaszczyzny obróbki
 Os pomiaru Q272: Oś, na której ma nast pić
pomiar:
1: Oś główna = oś pomiaru
2: Oś pomocnicza = oś pomiaru
3: Oś sondy impulsowej = oś pomiaru
 Kierunek przemieszczenia 1 Q267: Kierunek, w
którym sonda pomiarowa ma dosun ć si do
obrabianego przedmiotu:
1: Kierunek przemieszczenia ujemny
+1:Kierunek przemieszczenia dodatni
 Wysokość pomiaru na osi sondy pomiarowej
Q261 (absolutna): Współrz dna środka kuli (=punkt
dotkni cia) na osi sondy pomiarowej, na której ma
nast pić pomiar
 Bezpieczna wysokość Q320 (przyrostowo):
Dodatkowy odst p pomi dzy punktem pomiarowym
i główk sondy pomiarowej. Q320 działa addytywnie
do MP6140
 Bezpieczna wysokość Q260 (absolutnie):
Współrz dna na osi sondy pomiarowej, na której nie
może dojść do kolizji pomi dzy sond i obrabianym
przedmiotem (mocowadłem)
X
Y
Q266
Q264
Q263
Q272=1
Q265
Q272=2
+
–
– +
Q267
MP6140
+
Q320
A
B
C