HEIDENHAIN iTNC 530 (340 422) Touch Probe Cycles - Instrukcja (Strona 55)

HEIDENHAIN iTNC 530 55
3.1 Automatyczne r
e
jestr
o
wanie ukośnego położenia przedmiotu
Przykład: Określenie obrotu podstawowego przy pomocy dwóch odwiertów
0 BEGIN PGM CYC401 MM
1 TOOL CALL 0 Z
2 TCH PROBE 401 ROT 2 ODWIERTY
Q268=+25 ;1 SZY SRODEK 1 SZEJ OSI Punkt środkowy 1 szego odwiertu. X współrz dna
Q269=+15 ;1 SZY ŚRODEK 2 GIEJ OSI Punkt środkowy 1 szego odwiertu. Y współrz dna
Q270=+80 ;2 GI ŚRODEK 1 SZEJ OSI Punkt środkowy 2 szego odwiertu. X współrz dna
Q270=+35 ;2 GI ŚRODEK 2 GIEJ OSI Punkt środkowy 2 szego odwiertu. Y współrz dna
Q261= 5 ;WYSOKOSC POMIARU Współrz dna w osi sondy pomiarowej, na której nast puje pomiar
Q260=+20 ;BEZPIECZNA WYSOKOŚĆ Wysokość, na której oś sondy pomiarowej może przemieszczać si
bezkolizyjnie
Q307=+0 ;UST. WST. OBROT PODST. K t prostej bazowej
3 CALL PGM 35K47 Wywołanie programu obróbki
4 END PGM CYC401 MM
X
Y
25
35
Z
Y
80
15