2 automatyczne ustalanie punktów odniesienia – HEIDENHAIN iTNC 530 (340 422) Touch Probe Cycles Instrukcja Obsługi
Strona 71
HEIDENHAIN iTNC 530
71
3.2 Automatyczne ustalanie punktów odniesienia
PUNKT ODNIESIENIA NAROZE ZEWN.
(cykl sondy 414, DIN/ISO: G414)
Cykl sondy pomiarowej 414 ustala punkt przeci cia dwóch prostych
i wyznacza ten punkt przeci cia jako punkt odniesienia. Do wyboru
TNC może zapisywać punkt środkowy także do tabeli punktów
zerowych lub tabeli preset.
1
TNC pozycjonuje sond z posuwem szybkim (wartość z MP6150
lub MP6361) i przy pomocy logiki pozycjonowania (patrz
„Odpracowywanie cykli sondy pomiarowej” na stronie 19) do
pierwszego punktu pomiaru
1
. TNC przesuwa przy tym sond
pomiarow o odst p bezpieczeństwa w kierunku przeciwnym do
kierunku przemieszczenia
2
Nast pnie sonda pomiarowa przemieszcza si na wprowadzon
wysokość pomiaru i przeprowadza pierwsz operacj
próbkowania z posuwem próbkowania (MP6120 lub MP6360).
TNC określa kierunek próbkowania automatycznie w zależności
od zaprogramowanego 3 go punktu pomiarowego
3
Potem sonda pomiarowa przemieszcza si do nast pnego
punktu próbkowania
2
i przeprowadza tam drug operacj
próbkowania
4
TNC pozycjonuje sond pomiarow do punktu próbkowania
3
i
potem do punktu próbkowania
4
i przeprowadza tam trzeci i
czwart operacj próbkowania
5
Nast pnie TNC pozycjonuje sond pomiarow z powrotem na
bezpieczn wysokość i przetwarza ustalony punkt odniesienia w
zależności od parametrów cyklu Q303 i Q305 (patrz „Obliczony
punkt odniesienia zapisać do pami ci” na stronie 58)
6
Jeśli wymagane jest, TNC ustala nast pnie w oddzielnym zabiegu
próbkowania jeszcze punkt bazowy na osi sondy pomiarowej
1
2
4
3
3
1
1
3
3
1
1
3
TNC mierzy pierwsz prost zawsze w kierunku osi
pomocniczej osi obróbki.
Prosz uwzgl dnić przed programowaniem
Poprzez położenie punktów pomiarowych 1 i 3 określamy
to naroże, na którym TNC wyznacza punkt odniesienia
(patrz rysunek po prawej na środku i poniższa tabela).
Przed definicj cyklu operator musi zaprogramować
wywołanie narz dzia dla definicji osi sondy pomiarowej.
Naroże
Warunek X
Warunek Y
A
X1 wi kszy niż X3
Y1 mniejszy niż Y3
B
X1 mniejszy niż X3
Y1 mniejszy niż Y3
C
X1 mniejszy niż X3
Y1 wi kszy niż Y3
D
X1 wi kszy niż X3
Y1 wi kszy niż Y3