HEIDENHAIN iTNC 530 (340 422) Touch Probe Cycles - Instrukcja (Strona 106)

106 3 Cykle sondy pomiarowej dla automatycznej kontroli obrabianego przedmiotu
3.3 Automa
tyczny
pomiar przedmiot
ó
w  Srodek 1 szej osi Q273 (absolutnie): Srodek
kieszeni w osi głównej płaszczyzny obróbki
 Srodek 2 szej osi Q274 (absolutnie): Srodek
kieszeni w osi pomocniczej płaszczyzny obróbki
 1. długość kraw dzi bocznej Q282): Długość
kieszeni, równolegle do osi głównej płaszczyzny
obróbki
 2. długość kraw dzi bocznej Q283): Długość
kieszeni, równolegle do osi pomocniczej
płaszczyzny obróbki
 Wysokość pomiaru na osi sondy pomiarowej
Q261 (absolutna): Współrz dna środka kuli (=punkt
dotkni cia) na osi sondy pomiarowej, na której ma
nast pić pomiar
 Bezpieczna wysokość Q320 (przyrostowo):
Dodatkowy odst p pomi dzy punktem pomiarowym
i główk sondy pomiarowej. Q320 działa addytywnie
do MP6140
 Bezpieczna wysokość Q260 (absolutnie):
Współrz dna na osi sondy pomiarowej, na której nie
może dojść do kolizji pomi dzy sond i obrabianym
przedmiotem (mocowadłem)
 Przejazd na bezpieczn wysokość Q301:
Określić, jak sonda ma przemieszczać si pomi dzy
punktami pomiarowymi:
0: Przemieszczenie pomi dzy punktami
pomiarowymi na wysokość pomiaru
1: Przemieszczenie pomi dzy punktami
pomiarowymi na bezpieczn wysokość
 Najwi kszy wymiar 1 szej długości boku Q284:
Najwi ksza dozwolona długość kieszeni
 Najmniejszy wymiar 1 szej długości boku Q285:
Najmniejsza dozwolona długość kieszeni
 Najwi kszy wymiar 2 szej długości boku Q286:
Najwi ksza dozwolona szerokość kieszeni
 Najmniejszy wymiar 2 szej długości boku Q287:
Najmniejsza dozwolona szerokość kieszeni
 Wartość tolerancji środek 1 szej osi Q279:
Dozwolone odchylenie położenia w osi głównej
płaszczyzny obróbki
 Wartość tolerancji środek 2 szej osi Q280:
Dozwolone odchylenie położenia w osi pomocniczej
płaszczyzny obróbki
X
Y
Q287
Q285
Q274 ±Q280
Q273 ±Q279
Q283 Q286
Q282
Q284
X
Z
Q261
Q260
MP6140
+
Q320