HEIDENHAIN iTNC 530 (340 49x-02) Touch Probe Cycles - Instrukcja (Strona 77)

HEIDENHAIN iTNC 530 77
3.2 Automatyczne ustalanie punktów odniesienia
8 1. Punkt pomiaru 1 ej osi Q263 (absolutnie):
Współrz dna pierwszego punktu próbkowania w osi
głównej płaszczyzny obróbki
8 1. Punkt pomiaru 2 ej osi Q264 (absolutnie):
Współrz dna pierwszego punktu próbkowania w osi
pomocniczej płaszczyzny obróbki
8 Odst p 1 szej osi Q326 (przyrostowo): Odst p
pomi dzy pierwszym i drugim punktem
pomiarowym w osi głównej płaszczyzny obróbki
8 3. Punkt pomiaru 1 ej osi Q296 (absolutnie):
Współrz dna trzeciego punktu próbkowania w osi
głównej płaszczyzny obróbki
8 3. Punkt pomiaru 2 ej osi Q297 (absolutnie):
Współrz dna trzeciego punktu próbkowania w osi
pomocniczej płaszczyzny obróbki
8 Odst p 2 szej osi Q327 (przyrostowo): Odst p
pomi dzy trzecim i czwartym punktem pomiarowym
w osi pomocniczej płaszczyzny obróbki
8 Wysokość pomiaru na osi sondy pomiarowej
Q261 (absolutna): Współrz dna środka kuli (=punkt
dotkni cia) na osi sondy pomiarowej, na której ma
nast pić pomiar
8 Bezpieczna wysokość Q320 (przyrostowo):
Dodatkowy odst p pomi dzy punktem pomiarowym
i główk sondy pomiarowej. Q320 działa addytywnie
do MP6140
8 Bezpieczna wysokość Q260 (absolutnie):
Współrz dna na osi sondy pomiarowej, na której nie
może dojść do kolizji pomi dzy sond i obrabianym
przedmiotem (mocowadłem)
8 Przejazd na bezpieczn wysokość Q301:
Określić, jak sonda ma przemieszczać si pomi dzy
punktami pomiarowymi:
0: Przemieszczenie pomi dzy punktami
pomiarowymi na wysokość pomiaru
1: Przemieszczenie pomi dzy punktami
pomiarowymi na bezpieczn wysokość
8 Przeprowadzić obrót podstawowy Q304:
Określić, czy TNC ma kompensować ukośne
położenie obrabianego przedmiotu poprzez obrót
podstawowy:
0: nie przeprowadzać obrotu podstawowego
1: przeprowadzić obrót podstawowy
X
Y
Q297
Q263
Q326
Q264
Q296
Q327
MP6140
+
Q320