HEIDENHAIN iTNC 530 (340 49x-02) Touch Probe Cycles Instrukcja Obsługi
Strona 60
60
3 Cykle sondy pomiarowej dla automatycznej kontroli obrabianego przedmiotu
3.1 Automatyczne r
e
jestr
o
wanie ukośnego położenia przedmiotu
Przykład: Określenie obrotu podstawowego przy pomocy dwóch odwiertów
0 BEGIN PGM CYC401 MM
1 TOOL CALL 0 Z
2 TCH PROBE 401 ROT 2 ODWIERTY
Q268=+25 ;1. ŚRODEK 1. OSI
Punkt środkowy 1 szego odwiertu. X współrz dna
Q269=+15 ;1. ŚRODEK 2. OSI
Punkt środkowy 1 szego odwiertu. Y współrz dna
Q270=+80 ;2. ŚRODEK 1. OSI
Punkt środkowy 2 szego odwiertu. X współrz dna
Q271=+35 ;2. ŚRODEK 2. OSI
Punkt środkowy 2 szego odwiertu. Y współrz dna
Q261= 5
;WYSOKOŚĆ POMIARU
Współrz dna w osi sondy pomiarowej, na której nast puje pomiar
Q260=+20 ;BEZPIECZNA WYSOKOŚĆ
Wysokość, na której oś sondy pomiarowej może przemieszczać si
bezkolizyjnie
Q307=+0
;NAST.WST. OBRÓT
PODSTAW.
K t prostej bazowej
3 CALL PGM 35K47
Wywołanie programu obróbki
4 END PGM CYC401 MM
X
Y
25
35
Z
Y
80
15