HEIDENHAIN TNC 320 (340 55x-03) Touch Probe Cycles - Instrukcja (Strona 54)

54 3 Cykle sondy pomiarowej dla automatycznej kontroli obrabianego przedmiotu
3.1 Automatyczne rejestrowanie uko
śnego po
ło
żenia prze
dmiotu
 1. punkt pomiaru 1. osi Q263 (absolutnie):
współrzędna pierwszego punktu próbkowania na osi
głównej płaszczyzny obróbki
 1. punkt pomiaru 2. osi Q264 (absolutnie):
współrzędna pierwszego punktu próbkowania na osi
pomocniczej płaszczyzny obróbki
 2. punkt pomiaru 1. osi Q265 (absolutnie):
współrzędna drugiego punktu próbkowania na osi
głównej płaszczyzny obróbki
 2. punkt pomiaru 2. osi Q266 (absolutnie):
współrzędna drugiego punktu próbkowania na osi
pomocniczej płaszczyzny obróbki
 Oś pomiaru Q272: oś, na której ma być
przeprowadzony pomiar:
1: główna oś = oś pomiaru
2: oś pomocnicza = oś pomiaru
3: oś sondy = oś pomiaru
 Kierunek przemieszczenia 1 Q267: kierunek, w którym
sonda ma zbliżyć się do obrabianego przedmiotu:
-1: kierunek przemieszczenia ujemny
+1:kierunek przemieszczenia dodatni
 Wysokość pomiaru w osi sondy Q261 (absolutna):
współrzędna środka kulki (=punkt dotknięcia) w osi
sondy pomiarowej, na której ma nastąpić pomiar
 Bezpieczna wysokość Q320 (przyrostowo): dodatkowy
odstęp pomiędzy punktem pomiaru i kulką sondy
pomiarowej. Q320 działa addytywnie do SET_UP
 Bezpieczna wysokość Q260 (absolutna): współrzędna
na osi sondy pomiarowej, na której nie może dojść do
kolizji pomiędzy sondą i obrabianym przedmiotem
(mocowadłem)
X
Y
Q266
Q264
Q263
Q272=1
Q265
Q272=2
+
–
– +
Q267
MP6140
+
Q320
A
B
C
X
Z
Q261
Q260