HEIDENHAIN iTNC 530 (340 422) - Instrukcja (Strona 616)

616 14 Tabele i przegl dy ważniejszych informacji
14.1 Ogólne parametryużytkownika
Pomiar przesuni cia współosiowości
sondy impulsowej przy kalibrowaniu za
pomoc przeł czaj cej sondy impulsowej MP6160
Bez 180° obrotu 3D sondy impulsowej przy kalibrowaniu: 0
M funkcja dla 180° obrotu sondy pomiarowej przy kalibrowaniu: 1 do 999
M funkcja dla orientacji palca na
promienie podczerwone przed każd
operacj pomiaru MP6161
Funkcja nieaktywna: 0
Orientacja bezpośrednio poprzez NC: 1
M funkcja dla orientacji sondy pomiarowej: 1 do 999
K t orientacji dla palca na promienie
podczerwone MP6162
0 do 359,9999 [°]
Różnica pomi dzy aktualnym k tem
orientacji i k tem orientacji z MP 6162, od
którego ma zostać przeprowadzona
orientacja wrzeciona MP6163
0 do 3,0000 [°]
Czujnik podczerowieni przed
próbkowaniem zorientować
automatycznie na zaprogramowany
kierunek próbkowania MP6165
Funkcja nieaktywna: 0
Czujnik podczerweni zorientować: 1
Wielokrotny pomiar dla programowalnej
funkcji próbkowania MP6170
1 do 3
Przedział "zaufania" dla wielokrotnego
pomiaru MP6171
0,001 do 0,999 [mm]
Automatyczny cykl kalibrowania: środek
pierścienia kalibruj cego w X osi w
odniesieniu do punktu zerowego maszyny MP6180.0 (obszar przemieszczenia 1) do MP6180.2 (obszar
przemieszczenia3)
0 do 99 999,9999 [mm]
Automatyczny cykl kalibrowania: środek
pierścienia kalibruj cego w Y osi w
odniesieniu do punktu zerowego maszyny MP6181.x (obszar przemieszczenia 1) do MP6181.2 (obszar
przemieszczenia3)
0 do 99 999,9999 [mm]
Automatyczny cykl kalibrowania: Górna
kraw dź pierścienia kalibruj cego w Z osi
w odniesieniu do punktu zerowego
maszyny dla MP6182.x (obszar przemieszczenia 1) do MP6182.2 (obszar
przemieszczenia 3)
0 do 99 999,9999 [mm]
Automatyczny cykl kalibrowania: Odst p
poniżej kraw dzi górnej pierścienia
kalibruj cego, przy której TNC
przeprowadza kalibrowanie MP6185.x (obszar przemieszczenia 1) do MP6185.2 (obszar
przemieszczenia 3)
0,1 do 99 999,9999 [mm]
Pomiar promienia przy pomocy TT 130:
Kierunek próbkowania MP6505.0 (obszar przemieszczenia 1) do 6505.2 (obszar
przemieszczenia 3)
Dodatni kierunek próbkowania w osi odniesienia k ta (0° osi): 0
Dodtani kierunek próbkowania w +90° osi: 1
Ujemny kierunek próbkowania w osi odniesienia k ta (0° osi): 2
Ujemny kierunek próbkowania w +90° osi: 3
3D sondy pomiarowe impulsowe